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Novas arquiteturas fotônicas para redução da dependência do fator de qualidade e fator de extinção à erros de nanofabricação em cavidades ópticas
de Souza, Bruno Rangel Furtado (Universidade Federal de São Carlos, UFSCar, , Câmpus São Carlos, 04/04/2023)In this work, experimental data from a device fabricated in a Foundry was used to demonstrate a reduction in the dependence of the quality factor and the minimum power transmitted to nanofabrication errors. To prove this, ...